Содержание курса

Цель программы — совершенствование у слушателей профессиональных компетенций, необходимых для выполнения профессиональной деятельности в области ионно- и электронно-лучевых методов диагностики наноструктур и нанообъектов.

Программа включает в себя 3 модуля:
— диагностика наноразмерных структур, методами растровой электронной микроскопии;
— электронно-микроскопические методы диагностики;
— устройство и принцип работы растрового электронного микроскопа.

Обучение в каждом модуле предполагает как практические, так и лабораторные занятия.

Отличительной особенностью данной программы является сочетание теоретического обучения с возможностью практической деятельности с использованием комплекса современного оборудования, электронно-ионного растрового микроскопа HeliosNanoLab 650, электронного растрового микроскопа PhilipsXL 40.

Занятия проводят высококвалифицированные преподаватели Института Физики и прикладной математики и научные сотрудники лаборатории электронной микроскопии.

Занятия проводятся в случае набора группы не менее 8 слушателей.

Выдаваемый документ

Удостоверение о повышении квалификации

Форма обучения

• Очная