Основы исследований наноразмерных элементов ИС методами сканирующей зондовой микроскопии
Программа посвящена изучению основ работы сканирующего зондового микроскопа, особенностей исследования поверхности образцов в различных режимах СЗМ, точного определения параметров исследуемых объектов
Содержание курса
Программа позволяет получить основы и перспективы применения зондовых нанотехнологий при исследовании структур элементов наноэлектроники.
Выдаваемый документ
Удостоверение о повышении квалификации
Форма обучения
- Очно-заочная