Содержание курса

Программа посвящена изучению конструкции сканирующего зондового микроскопа, основ его работы, особенностям исследования поверхности образцов в различных режимах СЗМ и точного определения параметров исследуемых объектов.
Программа позволяет получить основы и перспективы применения зондовых нанотехнологий при исследовании структур элементов наноэлектроники.
Цель программы повышения квалификации -формирование профессиональных компетенций в области нанотехнологий и сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ).

Выдаваемый документ

Удостоверение о повышении квалификации

Форма обучения

• Очная
• С применением дистанционных технологий